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超声波探伤扫查显示的几种方法-飞泰

2024-01-04

超声波检测设备接收到的超声信号,需要通过一定的成像技术显示在仪器上,以便操作人员较直观的了解工件内部的缺陷状况。按照超声信号的显示方式,一般可将超声成像技术分为A、B、C、D、S.型扫描显示。


A 型显示

A 型显示方式是传统的波形显示,将超声信号的幅度与传播时间在坐标图中进行绘制。X轴方向代表传播时间,Y 轴方向代表信号的幅度,一般单位是 dB。


B、C、D 型扫描成像

在 A 扫描显示基础上,对接收到的超声信号进行图像重构,又相继发展出 B、C、D 型超声成像技术。B 扫描显示的是与声波传输方向平行,且与工件待测量表面垂直的剖面;C 扫描显示的是工件的横截面;D 扫描显示的是与声波传输方向和工件待测量表面都垂直的剖面。


相控阵技术和 S 型扫描成像

超声相控阵技术是一种先进的超声波检测技术,它是在相控阵雷达技术的基础上发展起来的。相控阵探头是由很多独立的小晶片组成的探头阵列,使用时探头阵列中同时发射和接收多路脉冲,设备再对接收到的多路信号进行分析。超声相控阵设备在扫查时,可以在工件表面某个入射点进行一定角度的扇形扫查,成像方式为扇形,因此称为扇形扫描成像,又称 S 扫描成像。


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